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Seminar "Messen im Bauwesen 2017"

01.10.2017 VDVinformiert Von Burkhard Kreuter vor 77 Tagen


In der letzten Woche konnten wir uns alle auf der INTERGEO ein Bild darübermachen, wie mit Scannern und unbemannten Flugobjekten digitale Bilder von der Realwelt erstellt werden können. In der beruflichen Praxis sind diese Techniken bereits im Einsatz.

In einem Vortrag während der Tagung „Messen im Bauwesen 2017“ werden Dipl.-Ing. Florian Schill, Prof. Dr.-Ing. Andreas Eichhorn im Vortrag „Analyse von Tragwerken mit einem Profilscanner“ darüber berichten, wie eine Dokumentation bis hinein in Fugen und Spalten von Objekten erstellt werden kann. Sicherlich ist spannend, wie wir uns diese Möglichkeit erschließen können. In der folgenden Zusammenfassung zum Vortrag können Sie einen Eindruck zum Vortrag gewinnen.

Die berührungslose Erfassung mit dem Profilscanner verringert zunächst den Aufwand im Vergleich zu klassischen Überwachungsmessungen und ermöglicht zusätzlich das Anmessen von nicht zugänglichen Stellen. Des Weiteren ist für Analysen die Information eines ganzen Bauwerkprofils verfügbar, sodass sich diese flexibel an variierende Fragestellungen anpassen lassen.

Obwohl das Messrauschen eines Profilscanners um ein Vielfaches höher ist als das von traditionell verwendeten Sensoren wie z. B. Wegaufnehmern, gelingt es durch den Einsatz der Multiskalenanalyse nahezu vergleichbare Ergebnisse für die Deformationssignale abzuleiten. Dazu wird das gemessene Profil zunächst in geradlinige Abschnitte segmentiert, deren Enden durch die Kanten des Brückenbauwerks definiert sind. Diese Segmentierung kann unter Verwendung der Wavelet-Transformation fast vollständig automatisiert werden. Die Profilscannermessungen in den so separierten Abschnitten können diskret oder durch kontinuierliche Funktionen (B-Splines) modelliert werden. Durch die entsprechenden Profilabtastraten entstehen so Zeitreihen von 50, 100 oder 200 Hz. Zur Verarbeitung dieser (instationären) Zeitreihen kann wieder die Wavelet-Transformation vorteilhaft eingesetzt werden. Insbesondere für die komplexe Analyse des Rauschens stellt sie die geeigneten Werkzeuge bereit.

In Beispielen werden die abgeleiteten Deformationen u. a. mit denen von Wegaufnehmern verglichen. Beide Sensoren besitzen eine ähnliche zeitliche Auflösung. Während die hochgenauen Messungen des Wegaufnehmers nur eine beschränkte räumliche Auflösung haben, erhält man beim Profilscanner eine nahezu kontinuierliche räumliche Auflösung bei annähernd gleicher Genauigkeit. Dies ermöglicht einerseits die punktweise Verifikation der abgeleiteten Deformationen und anderseits die profilweise Verknüpfung aller diskreten Messstellen am Bauwerk.

Die weiteren Details finden Sie unter dem nachstehenden Link.